文献

J-GLOBAL ID：200902286213664711   整理番号：08A0441246

β-Ga₂O₃基板を利用した深紫外光検出器

著者 (6件)： 大島孝仁 (京大) ,  奥野剛也 (京大) ,  藤田静雄 (京大) ,  新井直樹 (日本軽金属) ,  鈴木悟仁 (日本軽金属) ,  大平重男 (日本軽金属)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 55th  号： 3  ページ： 1491  発行年： 2008年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *酸化ガリウム ,  基板 ,  表面改質 ,  Schottky障壁 ,  *紫外検出器 ,  分光感度

分類 (1件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (3件)： β-Ga2O3 ,  深紫外 ,  光検出器