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J-GLOBAL ID:200902286426865494   整理番号:08A1097709

析出物サイズ分布の特性化:低電圧STEMの検証

Characterization of precipitates size distribution: validation of low-voltage STEM
著者 (6件):
資料名:
巻: 232  号:ページ: 112-122  発行年: 2008年10月 
JST資料番号: B0454B  ISSN: 0022-2720  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Ti,Nbなどの第二相粒子の析出は,低合金鋼の機械特性に極めて有用な効果を齎す。そして,低温析出では,高い強化を有する微小粒子の分布が齎らされる。一方,高温で安定な炭窒化物は,オーステナイト粒界にピン止め効果を齎し,これによって,最適な機械特性が得られる。そして,強化制御と粒サイズ制御には,サイズ分布と析出体積分率の定量化が,必須である。また,第二相粒子のサイズは極めて小さいため,透過型電子顕微鏡(TEM),とりわけ,従来型TEM(CTEM)が,金属合金中の析出物の特性化とサイズ測定に最も多く使用されている。近年,合金中の析出物の定量解析のため,エネルギー・フィルタ(EFTEM)や高角度散乱暗視野法(HAADF)のような新たなTEM法が,登場した。そして,TEMにおけるHADDFでは,薄い薄片内のナノメートル粒子,或いは析出物を容易に撮像できる。だが,合金の析出物中の特性化のための,走査型電子顕微鏡(SEM)における走査型TEM(STEM)の使用に関する報告がないのが現状である。本稿では,TEMにおけるHAADF,並びにSEMにおけるSTEMイメージング法を使用して,FeCVとFeCVNbモデル合金のオーステナイト化中の炭化サイズ分布進行の特性化を実施した。そして,抽出レプリカが,適切である場合,粒子サイズ分布を精確に測定できた。また,粒子サイズ測定では,HAADFイメージング法よりも,SEMにおけるSTEMの方が,有効であったが,この手法の使用は,粒子に関する化学的特性に関する知識を必要としない場合に限られた。更に,種々の温度でのFeCV合金のオーステナイト化におけるVC粒子のポピュレーションの進行を辿る上で,SEMにおけるSTEM法を使用できることが実証された。
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分類 (1件):
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顕微鏡法 

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