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J-GLOBAL ID:200902286675775004   整理番号:03A0506037

表面X線回折によるSiC(0001)3×3表面の構造研究

Structural study of SiC(0001)3×3 surface by surface X-ray diffraction
著者 (9件):
資料名:
巻: 216  号: 1/4  ページ: 356-360  発行年: 2003年06月30日 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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6H-SiC(0001)3×3再構成表面の構造をシンクロトロ...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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準シソーラス用語:
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分類 (1件):
分類
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半導体の表面構造 
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