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J-GLOBAL ID：200902287911328444   整理番号：05A0222270

高品質受動(回路)の正確なオンウェーハ無線周波数キャラクタリゼーションのための「パッドオープンショート」と「オープンショート負荷」デ・エンベディング法の比較

Comparison of the “Pad-Open-Short” and “Open-Short-Load” Deembedding Techniques for Accurate On-Wafer RF Characterization of High-Quality Passives

著者 (4件)： TIEMEIJER L F (Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD) ,  HAVENS R J (Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD) ,  JANSMAN A B M (Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD) ,  BOUTTEMENT Y (Philips Semiconductors Caen, Caen, FRA)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 53  号： 2  ページ： 723-729  発行年： 2005年02月 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試験用模擬構造上で高Q単一ループインダクタのデ・エンベディン...

シソーラス用語： *マイクロ波集積回路 ,...
準シソーラス用語： デ・エンベディング ,...

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分類 (2件)： LCR部品  (NA05030D) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高品質 ,  無線周波数 ,  キャラクタリゼーション ,  ショート