文献

J-GLOBAL ID：200902288803346785   整理番号：08A0790886

ナノチップからの電子ビームの高コヒーレンシーの直接確認

Direct Confirmation of the High Coherency of the Electron Beam from a Nanotip

著者 (4件)： ISHIKAWA Tsuyoshi (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  CHO Boklae (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  ROKUTA Eiji (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  OSHIMA Chuei (Waseda Univ., Tokyo, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 1  号： 7  ページ： 077001.1-077001.3  発行年： 2008年07月25日 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノチップからの電子ビームのコヒーレンシーを電界放出投影顕微鏡(FPM)中のナノバイプリズムを用いて評価し,タングステン(110)配向チップからのものと比較した。FPM画像は用いたチップの対応する電界放出パターンと一致した。ナノチップはW(110)チップよりも鋭いバイプリズム干渉縞を創った。干渉縞の可視性を比較して,高コヒーレント電子ビームがナノチップから放出されることを直接示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *電界放出 ,  端部 ,  *電子ビーム ,  *コヒーレンス ,  プリズム ,  タングステン ,  干渉縞 ,  ナノチップ
準シソーラス用語： バイプリズム

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (14件)：

• FINK, H.-W. IBM J. Res. Dev. 1986, 30, 460
• BINH, V. T. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 2527
• NAGAOKA, K. Appl. Surf. Sci. 2001, 182, 12
• FU, T.-Y. Phys. Rev. B. 2001, 64, 113401
• ISHIKAWA, T. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 143120

タイトルに関連する用語 (3件)： ナノチップ ,  電子ビーム ,  コヒーレンシー