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J-GLOBAL ID:200902288803346785   整理番号:08A0790886

ナノチップからの電子ビームの高コヒーレンシーの直接確認

Direct Confirmation of the High Coherency of the Electron Beam from a Nanotip
著者 (4件):
資料名:
巻:号:ページ: 077001.1-077001.3  発行年: 2008年07月25日 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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ナノチップからの電子ビームのコヒーレンシーを電界放出投影顕微鏡(FPM)中のナノバイプリズムを用いて評価し,タングステン(110)配向チップからのものと比較した。FPM画像は用いたチップの対応する電界放出パターンと一致した。ナノチップはW(110)チップよりも鋭いバイプリズム干渉縞を創った。干渉縞の可視性を比較して,高コヒーレント電子ビームがナノチップから放出されることを直接示した。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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電子顕微鏡,イオン顕微鏡 
引用文献 (14件):
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