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J-GLOBAL ID：200902289790277360   整理番号：09A0696244

結晶シリコン太陽電池のエレクトロルミネセンスを用いた写真診断

Photographic diagnosis of crystalline silicon solar cells utilizing electroluminescence

著者 (2件)： FUYUKI Takashi (Nara Inst. of Sci. and Technol., Nara, JPN) ,  KITIYANAN Athapol (Nara Inst. of Sci. and Technol., Nara, JPN)
資料名： Applied Physics. A. Materials Science & Processing  (Applied Physics. A. Materials Science & Processing)
巻： 96  号： 1  ページ： 189-196  発行年： 2009年07月 
JST資料番号： D0256C  ISSN： 0947-8396  CODEN： APHYCC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコン太陽電池の順バイアス時のエレクトロルミネセンス(EL)の写真による検査は,材料特性だけでなくプロセス誘起欠陥の可視化が可能な有効なツールである。順バイアス下では,太陽電池から1000~1200nm付近の赤外光が放出され,その強度にベース層少数キャリアの数が反映される。この結果,少数キャリア拡散距離,表面における再結合速度,ウエハ破損及び電極損傷などのキャリア密度に影響を及ぼす全ての要因が検出できる。EL強度分布のイメージは冷却CCDカメラによって撮像し,グレイスケール表示されるが,欠陥の種類の区別が困難である。固有欠陥は一般に外的欠陥よりも温度に敏感であり,太陽電池の温度変化によってEL強度コントラストに差が現れる。測定温度へのこの効果を利用して,結晶Si太陽電池の欠陥タイプの分類が可能である。

シソーラス用語： 太陽電池 ,  *エレクトロルミネセンス ,  欠陥検査 ,  可視化 ,  少数キャリア ,  拡散距離 ,  CCDカメラ ,  グレースケール ,  温度依存性 ,  *故障解析 ,  赤外発光スペクトル ,  画像処理
準シソーラス用語： *シリコン太陽電池 ,  バイアス電圧 ,  結晶シリコン太陽電池 ,  再結合速度 ,  写真解析

分類 (3件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  太陽電池  (NC03084O) ,  半導体のルミネセンス  (BM08092S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 結晶シリコン太陽電池 ,  エレクトロルミネセンス ,  写真 ,  診断