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J-GLOBAL ID：200902290183551280   整理番号：07A0440392

ペンタセンの薄膜相のX線回折逆空間マッピングによる研究

X-ray diffraction reciprocal space mapping study of the thin film phase of pentacene

著者 (3件)： YOSHIDA Hiroyuki (Inst. for Chemical Res., Kyoto Univ., Uji, Kyoto 611-0011, JPN) ,  INABA Katsuhiko (X-ray Res. Lab., Rigaku Corp., 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima, Tokyo 196-8666, JPN) ,  SATO Naoki (Inst. for Chemical Res., Kyoto Univ., Uji, Kyoto 611-0011, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 90  号： 18  ページ： 181930-181930-3  発行年： 2007年04月30日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ペンタセンの薄膜層の構造をX線回折逆空間写像(RSM)を使っ...

シソーラス用語： 三斜晶系 ,...

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分類 (1件)： 芳香族化合物の結晶構造  (BK08020F)

物質索引 (1件)： ペンタセン

タイトルに関連する用語 (5件)： ペンタセン ,  薄膜 ,  X線回折 ,  空間マッピング ,  研究