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J-GLOBAL ID：200902290616243659   整理番号：05A0889007

ZnO材料とデバイスの包括的レビュー

A comprehensive review of ZnO materials and devices

著者 (9件)： OEZGUER Ue. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  ALIVOV Ya. I. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  LIU C. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  TEKE A. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  RESHCHIKOV M. A. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  DOGAN S. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  AVRUTIN V. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  CHO S.-J. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia) ,  MORKOC H. (Virginia Commonwealth Univ., Virginia)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 98  号： 4  ページ： 041301.1-041301.103  発行年： 2005年08月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半導体ZnOは励起子結合エネルギーが大きい(60meV)ので...

シソーラス用語： *レビュー ,...
準シソーラス用語： 禁止帯

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分類 (1件)： 固体デバイス材料  (NC03020K)

タイトルに関連する用語 (2件)： ZnO ,  レビュー