光学的全視野応力・ひずみ計測技術の最近の動向  ランダムパターンを用いた全視野ひずみ分布計測法

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J-GLOBAL ID：200902291607623127 整理番号：03A0190414

光学的全視野応力・ひずみ計測技術の最近の動向ランダムパターンを用いた全視野ひずみ分布計測法

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資料名：
巻： 52 号： 3 ページ： 132-136 発行年： 2003年03月01日
JST資料番号： G0027A ISSN： 0367-5866 CODEN： HIHKA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

広義のランダムパターンを用いた全視野ひずみ分布計測法として,...

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非破壊試験

引用文献 (21件)：

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