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J-GLOBAL ID：200902291630615433   整理番号：05A0341143

圧力浮遊法による薄膜の密度測定

Density Measurement of a Thin-Film by the Pressure-of-Flotation Method
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著者 (3件)：
WASEDA Atsushi

WASEDA Atsushi について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN について

, 
FUJII Kenichi

FUJII Kenichi について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN について

, 
TAKETOSHI Naoyuki

TAKETOSHI Naoyuki について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN について


資料名：
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement について


巻： 54  号： 2  ページ： 882-885  発行年： 2005年04月 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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Si単結晶は密度の標準とAvogadro定数N<sub>A<...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*ケイ素

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シソーラス用語/準シソーラス用語
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アボガドロ数

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分類 (2件)：
分類
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質量,密度,比重の計測法・機器 
(AD05030Z)

質量,密度,比重の計測法・機器 について

,  金属薄膜 
(BK14030T)

金属薄膜 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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浮遊

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, 
薄膜

薄膜 について

, 
密度測定

密度測定 について


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