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J-GLOBAL ID：200902293557164811   整理番号：04A0164573

ゾルゲル誘導PZT薄膜の表面層のXPS分析

XPS analysis of surface layer of sol-gel-derived PZT thin films

著者 (3件)： SUGIYAMA O (Fuji Industrial Res. Inst., Fuji, JPN) ,  MURAKAMI K (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  KANEKO S (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
資料名： Journal of the European Ceramic Society  (Journal of the European Ceramic Society)
巻： 24  号： 6  ページ： 1157-1160  発行年： 2004年 
JST資料番号： E0801B  ISSN： 0955-2219  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ゾルゲル誘導ジルコン酸チタン酸鉛(PZT)薄膜の結晶層と組成...

シソーラス用語： *薄膜 ,...
準シソーラス用語： *PZT【鉛化合物】

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分類 (1件)： 非金属材料へのセラミック被覆  (YC02040K)

物質索引 (3件)： 酢酸鉛 ,  テトライソプロポキシジルコニウム(IV) ,  テトライソプロポキシチタン

タイトルに関連する用語 (5件)： 誘導 ,  PZT ,  薄膜 ,  表面層 ,  XPS分析