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J-GLOBAL ID：200902293708180776   整理番号：08A1020709

三次元イメージング法の最近の進歩

Recent Advances in Transmission Electron Microtomography for Polymer Research

著者 (3件)： 陣内浩司 (京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科) ,  森田裕史 ((独)産業技術総合研究所ナノテクノロジー部門) ,  新原健一 (京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科)
資料名： 高分子論文集  (Japanese Journal of Polymer Science and Technology)
巻： 65  号： 9  ページ： 547-561 (J-STAGE)  発行年： 2008年 
JST資料番号： G0122A  ISSN： 0386-2186  CODEN： KBRBA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,高分子の不均一構造を三次元的に実空間直接観察することにより,材料の評価・解析を行う新しい実験手法(三次元イメージング法)が注目を浴びている.高分子混合系の相分離過程の三次元観察などに用いられた共焦点レーザースキャン顕微鏡(Laser Scanning Confocal Microscopy,LSCM)に加え,高分子ナノ構造を三次元観察できる透過型電子線トモグラフィー法(Transmission Electron Microtomography,TEMT),不透明な高分子材料のμmスケールでの三次元観察を可能とするX線CT(X-ray Computerized Tomography,X-ray CT),さらに集束イオンビームを用いメゾスケールの三次元観察に最適な Scanning Electron Microscopy Combined with a Focused Ion Beam (FIB-SEM)の登場により,nmからμmにわたる広い空間スケールでのシームレスな三次元イメージングが現実のものとなった.本報では,最近特に発展が著しいTEMTの装置・測定法の新展開と新しい三次元イメージング法であるFIB-SEMについて概説する.また,TEMTと他の構造解析法との組合せによるブロック共重合体・無機/高分子ナノコンポジット材料の最新の三次元観察・解析例を紹介し,三次元イメージング法による新しい高分子構造研究の方向性とその将来性について述べる.(著者抄録)

シソーラス用語： *ブロック共重合体 ,  *ナノ複合材料 ,  *カーボンブラック ,  画像診断 ,  走査電子顕微鏡 ,  画像分析 ,  共焦点顕微鏡 ,  X線顕微鏡 ,  トモグラフィー
準シソーラス用語： *透過電子マイクロトモグラフィー ,  *X線鏡検法 ,  *レーザ-走査共焦点顕微鏡観察 ,  *ブロックコポリマ ,  *三次元画像分析 ,  三次元イメージング ,  FIB-SEM ,  SEM【顕微鏡】

分類 (3件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  電磁場中の粒子の運動及び放射  (BD01030Y) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

引用文献 (103件)：

• 1) 陣内浩司, 西川幸宏, 西 敏夫, 高分子論文集, 62, 488 (2005).
• 2) 陣内浩司, 高分子, 56(5), 352 (2007).
• 3) 黒木重樹, 機能材料, 25(7), 24 (2005).
• 4) S. Koizumi, Y. Yamane, S. Kuroki, I. Ando, Y. Nishikawa, and H. Jinnai, J. Appl. Polym. Sci., 103, 470 (2007).
• 5) J. Frank, “Electron Tomography-Three-Dimensional Imaging with the Transmission Electron Microscope”, Plenum, New York (1992).

タイトルに関連する用語 (1件)： 三次元イメージング