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J-GLOBAL ID：200902293806598614   整理番号：09A1223355

TDCを用いたイメージセンサ用多段ADCのメタステーブル特性

Meta-Stability Characteristic of Single-Slope ADC with Time to Digital Convertor for CMOS-Image Sensor

著者 (4件)： SHIN Mhun (北大 大学院情報科学研究科) ,  池辺将之 (北大 大学院情報科学研究科) ,  本久順一 (北大 大学院情報科学研究科) ,  佐野栄一 (北大 大学院情報科学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 109  号： 214(ICD2009 33-62)  ページ： 75-80  発行年： 2009年09月24日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： いままでに,CMOSイメージセンサの“Single-Slope型A/D”の量子化誤差をTDC:Time to Digital Converterで再計測する方法を提案してきた。InverterによるDelay-line方式に対し,位相の異なるクロック信号を用いたD-FFによるTDCを後段に付加することを検討した。0.25umプロセス200MHz動作をターゲットにしたとき,プロセスの相対及び絶対ばらつきを8%以内に補償し,DNL:±0.25LSB,INL:+0.4LSBでTDC動作を行うことをシミュレーションにより確認した。また,変形サーモコードを活用することで,TDCに用いる記憶素子を半減することが可能となった。12ビットADCに対して,前段9bit,後段3bitを想定した場合,D-FF数13個で本方式ADCを構成可能である。A/D変換器の線形性は,クロックの信号発生器に起因し,DLLまたはPLL部のJitterと発振器の製造バラツキがDNLに大きく作用する。(著者抄録)

シソーラス用語： *イメージセンサ ,  *AD変換器 ,  位相 ,  同期信号 ,  画像処理 ,  量子化誤差 ,  回路シミュレーション ,  過渡応答 ,  線形性 ,  CMOSイメージセンサ
準シソーラス用語： ADC【変換器】 ,  クロック信号

分類 (2件)： AD・DA変換回路  (NC05080M) ,  その他の固体デバイス  (NC03150A)

引用文献 (6件)：

• 1) 櫻谷直史. CMOSイメージセンサ用シングルスロープA/Dの高速化検討. 第11回システムLSIワークショップ.
• 2) 申武雄. 遅延線路を用いたCMOSイメージセンサ用高速シングルスロープAD変換器の検討. システムとLSIのワークショップ2009. (2009)
• 3) NARAGHI S. A 9b 14μW 0.06mm2 PPM ADC in 90nm digital CMOS. ISSCC Dig. Tech. Papers, 2009. (2009) p.168-169.
• 4) NICLASS C. A 128x128 Single-Photon Image Sensor with Column-Level 10-bit Time-to-Digital Converter Array. IEEE J. Solid-State Circuits. (2008) vol.43, no.12,
• 5) MASE M. A Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor with Multiple Exposure-Time Signal Outputs and 12-bit Column-Parallel Cyclic A/D Converters. IEEE Journal of Solid-State Circuits. (2005) vol.40, no.12, p.2787-2795. doi:10.1109/JSSC.2005.858477

タイトルに関連する用語 (4件)： TDC ,  イメージセンサ ,  多段 ,  ADC