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J-GLOBAL ID：200902294441256855   整理番号：09A1017739

原子間力顕微鏡法により解像される1分子の化学構造

The Chemical Structure of a Molecule Resolved by Atomic Force Microscopy

著者 (6件)： GROSS Leo (IBM Res., Rueschlikon, CHE) ,  MOHN Fabian (IBM Res., Rueschlikon, CHE) ,  MOLL Nikolaj (IBM Res., Rueschlikon, CHE) ,  LILJEROTH Peter (IBM Res., Rueschlikon, CHE) ,  LILJEROTH Peter (Utrecht Univ., Utrecht, NLD) ,  MEYER Gerhard (IBM Res., Rueschlikon, CHE)
資料名： Science  (Science)
巻： 325  号： 5944  ページ： 1110-1114  発行年： 2009年08月28日 
JST資料番号： E0078A  ISSN： 0036-8075  CODEN： SCIEA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Cu(111)基板およびNaCl絶縁性膜上のペンタセンの原子解像度の原子間力顕微鏡法(AFM)測定を紹介する。AFMによる原子的分解能のためには,化学的相互作用が実質的寄与をする力の短距離条件で動作させる必要がある。AFMチップの制御された原子規模修飾の効果を探究し,適切なチップ終端が非接触AFM(NC-AFM)の画像化において非常に増強された原子規模のコントラストを生じさせることを示した。CO終端チップを用いてCu(111)上で走査トンネル顕微鏡法(STM)およびAFMモードでペンタセン分子を画像化した。筆者らの実験的成果をab inito密度汎関数理論計算により確証した。理論との比較は,Pauli斥力が原子解像度の源であるが,van der Waalsおよび静電力は散漫的な引力背景を付加するだけであることを示した。

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,  基板 ,  銅 ,  塩化ナトリウム ,  化学修飾 ,  *コントラスト ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  分解能 ,  密度汎関数法 ,  *分子構造 ,  ポリアセン
準シソーラス用語： 原子解像度

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

物質索引 (1件)： ペンタセン

タイトルに関連する用語 (4件)： 原子間力顕微鏡法 ,  解 ,  分子 ,  化学構造