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J-GLOBAL ID：200902294673589109   整理番号：07A0548275

500°Cまでのダイヤモンドのゲージ率の評価

Evaluation of diamond gauge factor up to 500 °C

著者 (3件)： YAMAMOTO Akira (Western Industrial Res. Inst. of Hiroshima Prefecture, 2-10-1 Agaminami Kure 737-0004, JPN) ,  NORIO Nawachi (Western Industrial Res. Inst. of Hiroshima Prefecture, 2-10-1 Agaminami Kure 737-0004, JPN) ,  TAKAHIRO Tsutsumoto (Western Industrial Res. Inst. of Hiroshima Prefecture, 2-10-1 Agaminami Kure 737-0004, JPN)
資料名： Diamond and Related Materials  (Diamond and Related Materials)
巻： 16  号： 8  ページ： 1670-1675  発行年： 2007年08月 
JST資料番号： W0498A  ISSN： 0925-9635  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ほう素ドープ多結晶ダイヤモンド膜のゲージ率を,室温から500...

シソーラス用語： *ダイヤモンド ,...

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分類 (2件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (3件)： ダイヤモンド ,  ゲージ率 ,  評価