YAMAGUCHI Tomoyuki について
Waseda Univ., Tokyo, JPN について
NAKAMURA Shingo について
Waseda Univ., Tokyo, JPN について
SAEGUSA Ryo について
Italian Inst. Technol., Genova, ITA について
HASHIMOTO Shuji について
Waseda Univ., Tokyo, JPN について
IEEJ Transactions on Electrical and Electronic Engineering について
コンクリート について
表面 について
画像 について
検出 について
視覚検査 について
建築物 について
輝度 について
連続性 について
浸透 について
符号化 について
雑音低減 について
特性 について
計測システム について
画像診断 について
損傷検出 について
ROC について
ROC解析 について
イメージ について
クラック検出 について
スケーラブル符号化 について
コンクリート構造 について
コンクリート表面 について
イメージ について
クラック検出 について