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J-GLOBAL ID：200902297589845115   整理番号：09A0007120

高信頼セルによる回路の信頼性評価

Evaluating the reliability of Highly Reliable Cell Circuits

著者 (5件)： 堀田敬一 (奈良先端科学技術大学院大) ,  中田尚 (奈良先端科学技術大学院大) ,  中西正樹 (奈良先端科学技術大学院大) ,  山下茂 (奈良先端科学技術大学院大) ,  中島康彦 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 情報処理学会研究報告  (IPSJ SIG Technical Reports)
巻： 2008  号： 111(SLDM-137)  ページ： 91-96  発行年： 2008年11月10日 
JST資料番号： Z0031B  ISSN： 0919-6072  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年のトランジスタ製造によるプロセス微細化によって,トランジスタの故障率の増加が問題となっている。そこで故障率の増加を抑える手法として,高信頼セルを用いて回路を構成する手法が提案されている。高信頼セルは従来セルと比較して耐故障性が高いと考えられている。この耐故障性を定量的に扱うためには,信頼性評価を行う必要がある。信頼性評価手法はいくつか提案されているが,従来手法を用いて高信頼セルの信頼性評価を行う場合,信頼性を正確に評価できない問題が生じる。そこで本論文では,正確な評価を行うためにトランジスタの故障率をもとに回路全体の信頼性を評価する手法を提案する。これにより従来セルと高信頼セルによる回路の信頼性を定量的に評価することが可能になる。提案手法を用いた従来セルと高信頼セルの信頼性の評価実験を行った結果,従来セルと比較して高信頼セルの信頼性がどの程度高いかを定量的に示した。(著者抄録)

シソーラス用語： *トランジスタ ,  *故障率 ,  評価 ,  フォールトトレランス ,  信頼性 ,  電子回路 ,  *半導体プロセス ,  分散【variance】 ,  回路設計 ,  実験
準シソーラス用語： ばらつき ,  高信頼セル ,  *信頼性評価 ,  評価実験

分類 (3件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  その他のディジタル計算機方式  (JC02050G) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： セル ,  回路の信頼性 ,  評価