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J-GLOBAL ID：200902298145817820   整理番号：09A0164633

(111)-テクスチャード(textured)Au上のPdのアンダポテンシャル電着時のその場応力及びナノ重量測定

In Situ Stress and Nanogravimetric Measurements During Underpotential Deposition of Pd on (111)-Textured Au

著者 (2件)： STAFFORD G. R. (National Inst. of Standards and Technol., Maryland) ,  BERTOCCI U. (National Inst. of Standards and Technol., Maryland)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 113  号： 1  ページ： 261-268  発行年： 2009年01月08日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 0.1M硫酸支持電解質中の(111)-テクスチャードAu片持梁電極上のPdのアンダポテンシャル電着(upd)と関係する表面応力を調べた。この応力発達をPd被覆率と相関づけるために,電気化学水晶ナノ天秤(EQNB)も用いた。Pd-updと関係する応力は引張応力であり,その主要発生源はPd及びAu間の+4.9%の格子不整合である。しかし期待した引張応力は,Pd-Au結合の形成とPd表面上のアニオン吸着によって部分的に相殺される。Pd-updは+0.4Nm^-1の表面応力の変化を起こし,一方,第二単分子層は+0.6Nm^-1の追加応力変化を生成する。この第二単分子層の大きな引張応力の変化は,Au基板の消滅した電子的影響が原因であるとした。

シソーラス用語： *パラジウム ,  *単分子層 ,  *金電極 ,  片持梁 ,  *アンダポテンシャル電着 ,  重量測定 ,  *表面応力 ,  支持電解質 ,  微量天秤 ,  被覆率 ,  引張応力 ,  格子不整合 ,  変化 ,  計測 ,  応力測定 ,  基板 ,  *パラジウム触媒 ,  担持触媒
準シソーラス用語： その場測定 ,  応力変化 ,  金属基板 ,  水晶微量天秤

分類 (3件)： 金属薄膜  (BK14030T) ,  貴金属触媒  (CB06122I) ,  金属の結晶成長  (BK13030M)

タイトルに関連する用語 (5件)： Au ,  Pd ,  アンダポテンシャル電着 ,  応力 ,  重量測定