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J-GLOBAL ID：200902298836444133   整理番号：03A0227108

微小円孔を有する電着銅薄膜の成長粒子発生密度を利用した二軸応力検出法

Measurement of Biaxial Stress Using Grown Grain Density Rate in Electrodeposited Copper Foil with a Microcircular Hole.

著者 (3件)： 北岡征一郎 (鳥取大 工) ,  小野勇一 (鳥取大 工) ,  中川政章 (鳥取大 大学院工学研究科)
資料名： 日本機械学会論文集 A編  (Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. Series A)
巻： 69  号： 679  ページ： 565-570  発行年： 2003年03月25日 
JST資料番号： F0227B  ISSN： 0387-5008  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本測定法において従来用いられてきた成長粒子発生の限界応力曲線...

シソーラス用語： *金属薄膜 ,...

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分類 (2件)： 金属材料  (HC02020X) ,  電鋳  (WC08040Y)

引用文献 (7件)：

• 北岡征一郎. 機論, A. 1991, 57, 538, 1436-1441
• 北岡征一郎. 機論, A. 1993, 59, 560, 1030-1035
• 北岡征一郎. 機論, A. 1993, 59, 560, 1036-1041
• 北岡征一郎. 機論, A. 1995, 64, 560, 2476-2481
• 北岡征一郎. 機論, A. 2000, 66, 647, 1398-1403

タイトルに関連する用語 (9件)： 微小 ,  円孔 ,  電着 ,  銅薄膜 ,  成長 ,  粒子発生 ,  密度 ,  二軸応力 ,  検出法