アルゴンイオンビームを用いた試料前処理法の検討

文献

J-GLOBAL ID：200902299697628476 整理番号：06A0074533

Novel Specimen Preparation Using a Broad-Argon Ion Beam

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資料名：
巻： 3 ページ： 84-87 発行年： 2006年01月
JST資料番号： L4876A ISSN： 1880-7216 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

走査電子顕微鏡(SEM)による断面観察と分析のための断面試料...

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金属組織観察法

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