文献

J-GLOBAL ID：200902299803167343   整理番号：05A0366499

ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外I)低加速FE-SEM/ESBによるプリント基板のはんだ接合界面の簡易・迅速観察法

New development of surface analysis from the standpoint of users. Simple and quick observation method for the soldered joint interface of printed circuit boards using low acceleration FE-SEM/ESB.

著者 (4件)： 清水健一 (慶応大) ,  立花繁明 (カールツァイス) ,  JAKSCH H. (Carl Zeiss SMT) ,  幅崎浩樹 (北大 大学院)
資料名： 工業材料  (Engineering Materials)
巻： 53  号： 5  ページ： 74-80  発行年： 2005年05月01日 
JST資料番号： F0172A  ISSN： 0452-2834  CODEN： KZAIA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 無電解Ni-P/置換Auめっきを用いて作成されたプリント基板...

シソーラス用語： *プリント基板 ,...
準シソーラス用語： SEM【顕微鏡】

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0366499&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=F0172A") }}

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (10件)： ユーザー ,  表面分析 ,  展開 ,  加速 ,  FE-SEM ,  プリント基板 ,  はんだ接合 ,  界面 ,  簡易 ,  観察