特許

J-GLOBAL ID：200903000012029050

粒径測定方法及び粒径測定装置

発明者： 宮村 和宏 ,  米澤 俵介 ,  大森 陽一 ,  池田 元英 ,  杉山 進 ,  大惠 克俊 ,  ソマワン クンプアン
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所 ,  学校法人立命館
代理人 (2件)： 西村 竜平 ,  佐藤 明子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-110697
公開番号（公開出願番号）：特開2008-267969
出願日： 2007年04月19日
公開日（公表日）： 2008年11月06日
要約：

【課題】短時間で、精度良く且つ容易に粒径を測定することである。【解決手段】測定対象粒子を含む試料液体に粒径既知の基準粒子21、22、23を混入する混入ステップと、前記混入ステップにより生成された混合液体を、毛細管現象を生じさせる連続的に変化する間隙に導入することにより、前記測定と、対象粒子及び前記基準粒子21、22、23をその粒径に応じて分級する分級ステップ前記測定対象粒子及び前記基準粒子21、22、23の分級結果から、前記測定対象粒子の粒径を測定する測定ステップと、を備える【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象粒子を含む試料液体に粒径既知の基準粒子を混入する混入ステップと、 前記混入ステップにより生成された混合液体を、毛細管現象を生じさせ、連続的に変化する間隙に導入することにより、前記測定対象粒子及び前記基準粒子をその粒径に応じて分級する分級ステップと、 前記測定対象粒子及び前記基準粒子の分級結果から、前記測定対象粒子の粒径を測定する測定ステップと、を備える粒径測定方法。

IPC (1件)：

G01N 15/14

FI (2件)：

G01N15/14 A ,  G01N15/14 K

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 粒径分布測定装置および粒径分布測定装置における感度校正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-035288   出願人：株式会社堀場製作所