特許

J-GLOBAL ID：200903000013584961

サンプリング装置

発明者： 石崎 義介 ,  棚村 光浩
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-333717
公開番号（公開出願番号）：特開平10-169406
出願日： 1996年12月13日
公開日（公表日）： 1998年06月23日
要約：

【要約】【課題】各サンプル位置より得た水、蒸気の分析を高信頼性で確実に行うことにある。【解決手段】発電プラント系統内の水、蒸気をサンプリングしてサンプリングクーラ17により冷却した後、減圧装置18により減圧した水、蒸気をPH、溶存酸素、導電率、シリカ等を分析するサンプリング装置において、サンプリングクーラ17の上流部に繋がるブローダウン系統にブローダウンクーラ29を設置したものである。

請求項（抜粋）：

発電プラント系統内の水、蒸気をサンプリングしてサンプリングクーラにより冷却した後、減圧装置により減圧した前記水、蒸気をPH、溶存酸素、導電率、シリカ等を分析するサンプリング装置において、前記サンプリングクーラの上流部に繋がるブローダウン系統に冷却装置を設置したことを特徴とするサンプリング装置。

IPC (3件)：

F01D 25/00 ,  G21C 17/00 ,  F22D 11/00

FI (3件)：

F01D 25/00 V ,  F22D 11/00 N ,  G21C 17/00 J