特許
J-GLOBAL ID:200903000025550469

n本の導体中の電流を測定する方法およびこの方法を実施する装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 江崎 光史 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-108138
公開番号(公開出願番号):特開平10-307156
出願日: 1998年04月17日
公開日(公表日): 1998年11月17日
要約:
【要約】【課題】 測定装置を技術的に単純化し、コンパクトな構造にし、簡単な計算で所望の値を得ることのできる、少なくとも二本の導体の電流を測定する方法を提示する。そして、単純でコンパクトな構造に特徴のあるこの方法を実施する装置を提供する。【解決手段】 n本の導体(n≧2でn=整数)中の電流を測定する方法にあって、n-1個の磁気抵抗センサM1,M2,M3,... Mn-1 を用いてn本の導体中の電流の測定を行い、これ等のセンサが一つの導体電流またはそれ以上の導体電流から生じる磁場強度の差を測定するグラジオメータとして形成されている。また、上記の方法を実施する装置にあって、導体電流のためにn本の電流導体をn-1個の磁気抵抗センサM1,M2 の近くに配置し、これ等のセンサM1,M2 が二つの導体電流で生じる磁場強度の差を検出するように設計されている。
請求項(抜粋):
n本の導体(n≧2でn=整数)中の電流を測定する方法において、n-1個の磁気抵抗センサ(M1,M2,M3,... Mn-1 )を用いてn本の導体中の電流の測定を行い、これ等のセンサが一つの導体電流またはそれ以上の導体電流から生じる磁場強度の差を測定するグラジオメータとして形成されていることを特徴とする方法。
IPC (2件):
G01R 15/20 ,  G01R 33/09
FI (2件):
G01R 15/02 C ,  G01R 33/06 R

前のページに戻る