特許
J-GLOBAL ID:200903000089898370

電気回路試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 八木田 茂 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-300900
公開番号(公開出願番号):特開平5-196678
出願日: 1991年11月16日
公開日(公表日): 1993年08月06日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】電気回路の漏れ損及び導通損を試験するための装置を提供する。【構成】電源VHT、前半部及び後半部を有するモニタ回路、モニタ回路の各半部に同じ大きさの入力電流IS ,IO を供給するための電流供給手段2、モニタ回路の前半部及び電流変化手段2に被験回路3を接続するための接続手段よりなる。電流供給手段2は、被験回路からの出力電流IR を被験回路中の漏れ損IL にかかわりなく一定にたもつように、またモニタ回路の後半部の電流IO を漏れ損IL の大きさに比例して増加させるように入力電流IS ,IO を変化させるべく動作することができる。モニタ手段の上記2つの半部の両端間に第1の電圧測定手段を接続することによって漏れ損(IL )の大きさを測定するための第1接続手段が設けられている。
請求項(抜粋):
電圧を供給するための高圧レール及び低圧レールを持つ電圧供給手段(VHT)を有する電気回路試験装置において、第1半部及び第2半部を有するモニタ回路と;等しい大きさの入力電流(IS,IO)を上記のモニタ回路の各半部に供給する電流供給手段(2)と;上記モニタ回路の第1半部に被験回路(3)を接続するための接続手段と;被験回路(3)における漏れ損(IL)にかかわらず被験回路(3)からの出力電流(IR)を一定に保ち、かつ被験回路(3)における漏れ損(IL)の大きさに比例してモニタ回路の第2半部の電流(IO)を増加させるよう電流モニタ回路の第1半部及び第2半部に供給される入力電流(IS,IO)を変化させる電流変化手段(2)と;モニタ回路の第1半部と第2半部の両端間の電圧(VY-VX)を測定することによって被験回路(3)中の漏れ損(IL)の大きさを測定する第1電圧測定手段をモニタ回路に接続する第1接続手段と;を具備したことを特徴とする電気回路試験装置。
IPC (2件):
G01R 31/02 ,  G01R 31/14

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