特許
J-GLOBAL ID：200903000097381327

磁気記録媒体用基板とその表面管理方法及び磁気記録媒体

発明者：
横山 知崇

横山 知崇 について

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冨安 弘

冨安 弘 について

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畠 源七

畠 源七 について

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高橋 浩二

高橋 浩二 について

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宮本 武美

宮本 武美 について


出願人/特許権者：
ホーヤ株式会社

ホーヤ株式会社 について


代理人 (1件)： 萩原 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-099722
公開番号（公開出願番号）：特開2000-348332
出願日： 2000年03月31日
公開日（公表日）： 2000年12月15日
要約：
【要約】【課題】 基板における表面うねりを的確に表現することの出来る測定方法によって測定された表面うねりの値を所定の範囲に定めることにより高記録密度に対応した磁気記録媒体用基板とその表面管理方法及び磁気記録媒体を提供する。【解決手段】 磁気記録媒体用基板の主表面を非接触レーサ ゙ー干渉法によって測定した微小うねりの最大高さ(最大値)waと、前記磁気記録媒体用基板上に少なくとも磁性層を形成した磁気記録媒体に対してタッチタ ゙ウンハイト試験を行なった結果とを対比し、前記微小うねりの最大高さ(最大値)waとタッチタ ゙ウンハイトとの相関関係からタッチタ ゙ウンハイトが所望の値となるような所定の微小うねりの最大高さ(最大値)waを得る。
請求項（抜粋）：
磁気記録媒体用基板であって、前記磁気記録媒体用基板の主表面を非接触レーサ ゙ー干渉法によって測定した以下の関係式によって求められる微小うねりの最大高さ(最大値)waと、前記磁気記録媒体用基板上に少なくとも磁性層を形成した磁気記録媒体に対してタッチタ ゙ウンハイト試験を行なった結果とを対比し、前記微小うねりの最大高さ(最大値)waとタッチタ ゙ウンハイトとの相関関係からタッチタ ゙ウンハイトが所望の値となるような所定の微小うねりの最大高さ(最大値)waを有することを特徴とする磁気記録媒体用基板【数1】
IPC (2件)：
G11B 5/73 ,  G11B 5/84
FI (2件)：
G11B 5/73 ,  G11B 5/84 A
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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