X線による異物検出装置

発明者：
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：藤井信行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-078566
公開番号（公開出願番号）：特開平9-269380
出願日： 1996年04月01日
公開日（公表日）： 1997年10月14日
要約：

【要約】【課題】 X線による異物検出装置において、パルス状X線を照射することによって冷却、被爆量を低減し、生産管理、品質管理に利用することを目的とする。【解決手段】 X線通過コンベヤ1の下方にX線源2を配設し、上記コンベヤ1の上方にX線面センサー4を配設し、かつ上記X線源2、上記センサー4を共通中心線c上に配置して被写体検知部5を形成し、上記共通中心線c上に被写体6の1/2長さ検知装置7を設け、該1/2長さ検知信号によって上記X線源2からX線3を共通中心線cを中心として上方に向ってパルス状に放射する装置8を備えてなるものである。

請求項（抜粋）：

X線通過コンベヤの下方にX線源を配設し、上記コンベヤの上方にX線面センサーを配設し、かつ上記X線源、上記センサーを共通中心線上に配置して被写体検知部を形成し、上記共通中心線上に被写体の1/2長さ検知装置を設け、該1/2長さ検知信号によって上記X線源からX線を共通中心線を中心として上方に向ってパルス状に放射する装置を備えてなるX線による異物検出装置。

IPC (6件)：

G01V 5/00 , G01B 15/00 , G01N 23/04 , G01N 23/18 , G01T 1/29 , G21K 5/02

FI (6件)：

G01V 5/00 A , G01B 15/00 A , G01N 23/04 , G01N 23/18 , G01T 1/29 D , G21K 5/02 X

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