特許

J-GLOBAL ID：200903000157619689

材料試験機

発明者： 河野 俊幸
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-109339
公開番号（公開出願番号）：特開2004-317204
出願日： 2003年04月14日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：

【課題】CCDカメラ等の撮像手段の画素のピッチを小さくすることなく、従ってコストを上昇させることなく、より高い分解能のもとに試験片の幅寸法の変化を計測することのできる機能を持つ材料試験機を提供する。【解決手段】試験片Wの背後に負荷方向(x方向)に対して角度θをもって傾斜する複数のラインからなる縞模様パターン31a,31bを備えたマーク体3を配した状態で、撮像手段4により試験片Wを撮像し、縞模様パターンのラインと試験片Wの両縁部との交差部のx方向への刻々の位置情報を求め、その位置情報と角度θとから試験片Wの幅方向(y方向)への寸法変化を算出することにより、分解能を撮像手段4の画素ピッチのtanθ倍に向上させる。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

試験片に対して負荷を加える負荷機構を備えた材料試験機において、 上記負荷機構による負荷方向(x方向)に対して所定の角度θで傾斜する複数のラインからなる縞模様パターンを備えたマーク体を背景として、試験片を当該マーク体とともに撮像して2次元画像情報を出力する撮像手段と、その撮像手段の出力を取り込んで試験片の負荷方向に直交する幅方向(y方向)への刻々の寸法変化を演算する幅寸法演算手段を有し、この幅寸法演算手段は、画像上での試験片の幅方向両縁部と上記マーク体のラインとの交差部の上記x方向への刻々の位置情報と上記角度θとから、試験片両縁部の上記y方向への位置情報を算出して幅寸法を求めることを特徴とする材料試験機。

IPC (3件)：

G01N3/06 ,  G01B11/02 ,  G01N3/08

FI (3件)：

G01N3/06 ,  G01B11/02 H ,  G01N3/08

Fターム (21件)：

2F065AA12 ,  2F065AA14 ,  2F065AA20 ,  2F065AA22 ,  2F065BB02 ,  2F065BB05 ,  2F065BB28 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2G061AA01 ,  2G061AB01 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02 ,  2G061EB07 ,  2G061EC02