特許
J-GLOBAL ID:200903000162128260
非破壊測定方法及び非破壊測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
特許業務法人コスモス特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-216601
公開番号(公開出願番号):特開2009-047664
出願日: 2007年08月23日
公開日(公表日): 2009年03月05日
要約:
【課題】測定対象物に存在する表面変化部分の焼入深さを容易かつ正確に測定することが可能な非破壊測定方法及び非破壊測定装置を提供すること。【解決手段】測定対象物に存在する隣り合う異なった表面X,Y間の表面変化部分2について、当該測定対象物の焼入深さHを測定するものであり、表面変化部分2を挟んだ2つの面X,Yに対して第1センサ11a,12aと第2センサ11b,12bとを配置し、その第1センサ11a,12aと第2センサ11b,12bとの間で電気的又は電磁気的な処理を行うことによって得られる電気的出力を測定値とし、一方、測定対象物に存在する一又は二以上の表面変化部分の形状に応じた焼入深さと測定値との相関関係を示す検量線データを予め得ておき、測定値と検量線データとを比較して前記表面変化部分について焼入深さを求める非破壊測定方法。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
測定対象物に存在する隣り合う異なった表面間の表面変化部分について、当該測定対象物の焼入深さを測定する非破壊測定方法であり、
前記表面変化部分を挟んだ2つの面に対して第1センサと第2センサとを配置し、その第1センサと第2センサとの間で電気的又は電磁気的な処理を行うことによって得られる電気的出力を測定値とし、
一方、前記測定対象物に存在する一又は二以上の表面変化部分の形状に応じた焼入深さと測定値との相関関係を示す検量線データを予め得ておき、
前記測定値と検量線データとを比較して前記表面変化部分について焼入深さを求めることを特徴とする非破壊測定方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (15件):
2G053AA17
, 2G053AA25
, 2G053AB21
, 2G053BA03
, 2G053BC02
, 2G053BC14
, 2G053CA03
, 2G053CB23
, 2G053DA01
, 2G060AA10
, 2G060AE40
, 2G060AF15
, 2G060AG04
, 2G060AG11
, 2G060EA01
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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