特許
J-GLOBAL ID：200903000266920496
超音波表面SH波による溶接部の検査法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小山 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-160610
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318605
出願日： 1996年05月30日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：
【要約】【目的】 溶接部のルート部の反対側の表面から、溶込み不良及びタレ込みによる溶接部の欠陥を区別して検出することができる超音波探傷法を提供することを目的とする。【構成】 試験体8の溶接部の裏側の欠陥を外側より超音波により検査する検査法において、該試験体8表面9に平行で進行方向に垂直に振動する横波よりなる超音波パルスを発生する探触子10を該試験体8の外側表面9に密着して、該探触子10から該表面9に対し浅い角度で表面SH波を入射して、該表面SH波を該試験体8裏側の欠陥に到達せしめ、該欠陥からの反射波を該探触子10又は別個の受信用探触子により検出して、欠陥を検出することを特徴とする超音波表面SH波による溶接部の検査法。
請求項（抜粋）：
試験体の溶接部の裏側の欠陥を外側より超音波により検査する検査法において、該試験体表面に平行で進行方向に垂直に振動する横波よりなる超音波パルスを発生する探触子を該試験体の外側表面に密着して、該探触子から該表面に対し浅い角度で表面SH波を入射して、該表面SH波を該試験体裏側の欠陥に到達せしめ、該欠陥からの反射波を該探触子又は別個の受信用探触子により検出して、欠陥を検出することを特徴とする超音波表面SH波による溶接部の検査法。
IPC (4件)：
G01N 29/10 505
, G01N 29/04 502
, G01N 29/22 501
, G01N 29/22 504
G01N 29/10 505
, G01N 29/04 502
, G01N 29/22 501
, G01N 29/22 504
