特許
J-GLOBAL ID：200903000297204870
光パルス試験器における光ファイバの遠端位置判定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
穴見 健策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-017479
公開番号（公開出願番号）：特開2002-221467
出願日： 2001年01月25日
公開日（公表日）： 2002年08月09日
要約：
【要約】【課題】 フレネル反射などの2次反射による測定波形のピーク値を遠端位置として検出することなく、正確なピーク位置を遠端位置として検出する。【解決手段】 光パルス発生部10は所定の間隔で所定の波長の光パルスを繰り返し発生する。戻り光検出部20は光パルス発生部10からの光パルスを光ファイバ1に入射して、その戻り光を検出して電気信号に変換する。波形形成部30は戻り光検出部20からの検出信号から光ファイバの損失特性を表わす測定波形を形成する。遠端検出部40は、波形形成部30により形成した測定波形から正確な遠端位置を検出する。その際、ピークアドレス検出回路406により測定波形から複数のピーク値を検出し、ピーク間傾き演算回路408によりピーク間を直線で結んだ際の傾きを求め、ピーク間増減率演算回路410によりピーク間の波形の増減率を求め、これらの結果に基づいて遠端判定回路412により2次反射を考慮した正確な遠端位置を検出する。
請求項（抜粋）：
被測定対象の光ファイバにその一端部から所定の光パルスを入射して、その戻り光の信号レベルの波形から光ファイバの遠端部位を判定する光パルス試験器における光ファイバの遠端位置判定方法であって、該方法は、光源を駆動して所定の光パルスを被測定対象の光ファイバに入射し、その戻り光を検出する第1の工程と、該第1の工程の検出結果に基づいて光ファイバの距離に応じた損失特性を表わす測定波形を形成する第2の工程と、該第2の工程により形成した測定波形からその波形のそれぞれのピーク値を検出してその立ち上がり位置を求める第3の工程と、該第3の工程により求めた測定波形のピーク値の立ち上がり位置を直線によって結んだ際の傾きを求める第4の工程と、該第4の工程により求めたピーク値間の傾きを被測定波形の光ファイバの特性によりあらかじめ求められる所定の値と比較する第5の工程と、前記第3の工程により求めたピーク値間の測定波形を微分演算して、そのピーク値間の波形の増減率を求める第6の工程と、該第6の工程により求めたピーク値間の波形の増減率と前記第5の工程の比較結果とに基づいて遠端位置を判定する第7の工程とを含むことを特徴とする光パルス試験器における光ファイバの遠端位置判定方法。
Fターム (1件)：
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