特許
J-GLOBAL ID:200903000323503465
波長計測方法及びその装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
絹谷 信雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-057282
公開番号(公開出願番号):特開2003-254835
出願日: 2002年03月04日
公開日(公表日): 2003年09月10日
要約:
【要約】【課題】 絶対波長計測が容易で、波長遮断特性も良好であり、かつ振動の影響を受けにくい波長計測方法及びその装置を提供する。【解決手段】 光源8からの光が空間を伝搬することなく、全て光ファイバ内を伝搬するので振動に強い。また電歪素子4で直接ファイッブラッググレーティング10-3に応力を与えるため、掃引速度を速くすることができる。この結果、電歪素子4の駆動周波数として数十kHzまでの掃引が可能となる。さらに、光ファイバブラッググレーティング10-3のスペクトラムは非常に急峻な遮断特性を有するので、波長遮断特性が良好となる。
請求項(抜粋):
少なくとも1箇所の被物理量計測用光ファイバブラッググレーティングが形成された光ファイバに光源からの光を入射して得られた光の波長を計測する波長計測方法であって、波長計測用光ファイバブラッググレーティングに外力あるいは温度変化を与えてその反射光波長及び透過光波長を変化させると共に、上記被物理量計測用光ファイバブラッググレーティングからの反射光を上記波長計測用光ファイバブラッググレーティングに伝搬させて波長を計測することを特徴とする波長計測方法。
IPC (3件):
G01J 9/00
, G01J 3/18
, G01M 11/00
FI (3件):
G01J 9/00
, G01J 3/18
, G01M 11/00 T
Fターム (5件):
2G020CA12
, 2G020CC02
, 2G020CC22
, 2G020CD16
, 2G086EE06
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