特許
J-GLOBAL ID:200903000336898213

3次元形状測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岸本 瑛之助 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-129058
公開番号(公開出願番号):特開平5-322526
出願日: 1992年05月21日
公開日(公表日): 1993年12月07日
要約:
【要約】【目的】 死角による不都合を解消し、しかもハードウェアの構成およびソフトウェアによるデータ処理を簡単にし、コストも安くする。【構成】 被測定物8にスリット光9を照射する1つのスリット光源装置2、複数の鏡面3a、3bを有する多面鏡3、互いに異なる位置に配置されて被測定物8の表面の光切断線10からの光を多面鏡3の対応する鏡面3a、3bに向けて反射させる複数の平面鏡4、5、多面鏡3の複数の鏡面3a、3bに映った光切断線10の像を同時に撮像して各像の2次元画像データを出力する1つの2次元撮像装置6、および2次元撮像装置6からの複数の2次元画像データをそれぞれに対応する変換位置データを用いて3次元形状データに変換するデータ処理装置7を備える。
請求項(抜粋):
被測定物にスリット光を照射し、このスリット光が被測定物の表面に当たって形成される光切断線の2次元画像データを変換位置データを用いて3次元形状データに変換するようになされた3次元画像測定装置であって、被測定物にスリット光を照射する1つのスリット光源装置、複数の鏡面を有する多面鏡、互いに異なる位置に配置されて被測定物の表面の光切断線からの光を多面鏡の対応する鏡面に向けて反射させる複数の平面鏡、多面鏡の複数の鏡面に映った光切断線の像を同時に撮像して各像の2次元画像データを出力する1つの2次元撮像装置、および2次元撮像装置からの複数の2次元画像データをそれぞれに対応する変換位置データを用いて3次元形状データに変換するデータ処理装置を備えていることを特徴とする3次元形状測定装置。

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