特許
J-GLOBAL ID：200903000358465450
質量分析装置及び質量分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-024950
公開番号（公開出願番号）：特開平8-222180
出願日： 1995年02月14日
公開日（公表日）： 1996年08月30日
要約：
【要約】【目的】本発明の目的は、検出効率の高い質量分析装置及び質量分析方法を提供することにある。【構成】本質量分析装置は、イオントラップ,試料導入手段2,電子銃5,検出器9,イオントラップに電圧を印加する電源,電源や電子銃5などを制御する制御手段3,検出器9の検出信号に基づいて質量分析を行う質量分析手段10などで構成される。補助電源11によりエンドキャップ電極間に発生させる補助電界の向きを検出器9の方向のみにする。このとき、補助電圧の周期を、検出対象イオンの軸方向の振動周期に近付けることにより、検出対象イオンを補助電界と同期させて確実に検出器側に不安定化することができる。
請求項（抜粋）：
環状の第1電極と,該第1電極をその中心軸方向から挟むように配置された2個の第2電極と,前記第1及び第2電極で形成される空間内に高周波電界により安定に捕捉された複数のイオンのうち、検出対象イオンを不安定化させて検出する検出手段とを備えた質量分析装置において、検出手段方向に主成分を有する電界を、前記検出対象イオンに対して、該検出対象イオンの検出手段方向の振動が同期可能な周期で印加することにより、前記検出対象イオンが不安定化する方向が検出手段方向となるように制御する制御手段を備えたことを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/06
, H01J 49/26
, G01N 27/62
H01J 49/06
, H01J 49/26
, G01N 27/62 L
