特許
J-GLOBAL ID：200903000360738812
異方性導電材を有する検査治具及びその製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-092398
公開番号（公開出願番号）：特開平9-281145
出願日： 1996年04月15日
公開日（公表日）： 1997年10月31日
要約：
【要約】【課題】配線回路基板の検査において、被検査体の電極に検査痕を残さないで、被検査体と検査治具との位置合わせを改良した検査治具を提供する。【解決手段】絶縁性基板の一方の面に検査用の端子電極が、もう一方の面に配線回路が形成されており、前記端子電極は前記配線回路と電気的に接続された配線回路基板において、前記配線回路基板の前記端子電極にループ状のワイヤを少なくとも1個以上形成し、前記ループ状のワイヤの高さ以上の厚みの絶縁樹脂層を形成した後前記ループ状のワイヤが露出するまで前記絶縁樹脂層の表面樹脂を除去して、露出した前記ループ状のワイヤの先端を検査電極とすることを特徴とする異方性導電材を有する検査治具としたものである。
請求項（抜粋）：
絶縁性基板の一方の面に検査用の端子電極が、もう一方の面に配線回路が形成されており、前記端子電極は前記配線回路とスルーホールで電気的に接続された配線回路基板において、前記配線回路基板の前記端子電極にループ状のワイヤを少なくとも1個以上形成し、前記ループ状のワイヤの高さ以上の厚みの絶縁樹脂層を形成した後前記ループ状のワイヤが露出するまで前記絶縁樹脂層の表面樹脂を除去して、露出した前記ループ状のワイヤの先端を検査電極とすることを特徴とする異方性導電材を有する検査治具。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 1/073 F
, H01L 21/66 B
