特許
J-GLOBAL ID：200903000408096613
指紋特異点検出方法及び指紋特異点検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
後藤 洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-266661
公開番号（公開出願番号）：特開平9-114978
出願日： 1995年10月16日
公開日（公表日）： 1997年05月02日
要約：
【要約】【課題】 指紋や掌紋における特異点(コア、デルタ)検出方法における、特異点検出精度が隆線パターンの回転に依存して低下する問題を除去する。【解決手段】 指紋の隆線方向を表す隆線方向パターン101上の注目点を中心とする円上の複数点の各々における接線方向を表す接線方向ベクトルと前記円上の複数点の各々における隆線方向を表す隆線方向ベクトルとの内積値を求め、前記円上の複数点において求められた内積値の分布を隆線方向分布として出力する方向分布作成部102と、前記隆線方向分布をフーリエ展開し、フーリエ展開された結果を周波数成分ごとに出力するフーリエ展開部103と、前記フーリエ展開された結果の前記周波数成分ごとの強度を計算する強度計算部104と、前記周波数成分ごとの前記強度を比較することによって指紋特異点を判定する強度判定部105とを含む。
請求項（抜粋）：
指紋の隆線方向を表す隆線方向パターンから指紋特異点を検出する指紋特異点方法において、前記隆線方向パターン上の注目点を中心とする円上の複数点の各々における接線方向を表す接線方向ベクトルと前記円上の複数点の各々における隆線方向を表す隆線方向ベクトルとの内積値を求め、前記円上の複数点において求められた内積値の分布を隆線方向分布として出力する第1のステップと、前記隆線方向分布から前記指紋特異点を検出する第2のステップとを含むことを特徴とする指紋特異点検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/62 460
, G06F 15/70 365
