特許
J-GLOBAL ID：200903000449152293
ワーク表面検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
千葉 剛宏 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-329384
公開番号（公開出願番号）：特開平5-164700
出願日： 1991年12月13日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：
【要約】【目的】取り込み画像の有効検査領域以外の画像部分を画像処理対象から削除することにより、画像処理時間を減少させ、全体の検査時間の短縮が可能となるワーク表面検査方法を提供することを目的とする。【構成】ワーク表面を検査する際、予め、ティーチングしてあったワーク表面形状に対応して、ロボットコントローラ38等から画像処理装置36に信号が伝達され、前記信号により予め設定してある複数のウインドウを選択し、取り込み画像の有効検査領域以外である暗部の画像を画像処理対象から除外する。したがって、画像処理時間が短縮される。
請求項（抜粋）：
被測定面に向かって検出光を照射する投光手段と、該被測定面からの前記検出光の反射光を受光する検出手段と、前記反射光を前記検出手段の受光面に収束させる集光光学系とを備えた表面検査装置を用いて、曲面を有するワークの表面を検査する方法であって、被測定面の形状に基づき、前記検出手段によって得られる画像から有効検査画像を抽出するために予め設定されたウインドウを選択する過程と、前記選択されたウインドウを用いて抽出された有効検査領域の画像に対し、画像処理を施す過程と、を有することを特徴とするワーク表面検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/88
, G01B 11/30
, G06F 15/62 400
