特許
J-GLOBAL ID：200903000482228580

遊技盤における遊技釘の高さ検査装置

発明者：
遠山 康弘

遠山 康弘 について


出願人/特許権者：
株式会社ニューギン

株式会社ニューギン について


代理人 (2件)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-202115
公開番号（公開出願番号）：特開2006-020861
出願日： 2004年07月08日
公開日（公表日）： 2006年01月26日
要約：
【課題】検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。【解決手段】遊技盤10の表面10Aに打ち込まれた遊技釘14の高さが平板17の上面17bを含む水平平面21よりも高い場合、即ち、遊技盤10の表面10Aから遊技釘14の頂部までの距離が長すぎる場合には、当該遊技釘14により発光部22から発光された光の少なくとも一部が遮光される。そのため、この場合には、受光部23が受光する光の光量が予め設定した閾値光量よりも少なくなることから、遊技盤10上には打ち込み不良で長すぎる遊技釘14があるという検査結果を導くことができる。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
複数の遊技釘が打ち込まれた遊技盤の表面から予め設定した閾値距離だけ離間し且つ当該遊技盤の表面に対して平行となるように設定される検査平面に沿って遊技釘の高さ検査用の光を発光する発光手段と、 前記発光手段に対応した高さ位置に配置されて当該発光手段から発光された光を受光する受光手段と、 前記受光手段が受光した光の光量が予め設定した閾値光量よりも少ない場合には、前記遊技盤上に打ち込み不良の遊技釘がある旨の検査結果が出力されるように、検査結果出力用の出力手段を制御する制御手段とを備えた遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
IPC (1件)：
A63F 7/02
FI (3件)：
A63F7/02 312C ,  A63F7/02 310B ,  A63F7/02 330
Fターム (3件)：
2C088DA07 ,  2C088DA13 ,  2C088DA21
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
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