特許
J-GLOBAL ID：200903000485561973
IC測定用ソケット
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
尾川 秀昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-049116
公開番号（公開出願番号）：特開平11-251021
出願日： 1998年03月02日
公開日（公表日）： 1999年09月17日
要約：
【要約】【課題】 IC測定用ソケットにおいて、HSOFICに対応できるようにし、測定時におけるHSOFICからの熱の放熱性を高める。【解決手段】 HSOFICの通常端子と接触する通常リーフ4と、HSOFICの底面に露出するグランド端子と接触するグランドリーフ5を設ける。
請求項（抜粋）：
絶縁ベースの表面に、該絶縁ベースを貫通してその裏面に突出する外部端子を有しHSOFICの通常端子と接触する通常リーフと、上記絶縁ベースを貫通してその裏面に突出する外部端子を有しHSOFICの底面に露出するグランド端子と接触するグランドリーフとを設けたことを特徴とするIC測定用ソケット。
IPC (4件)：
H01R 33/76
, G01R 31/26
, H01L 21/66
, H01L 23/32
H01R 33/76
, G01R 31/26 J
, H01L 21/66 D
, H01L 23/32 A
