特許

J-GLOBAL ID：200903000504086351

円二色性測定装置

発明者： 真砂 央 ,  早川 広志
出願人/特許権者： 日本分光株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-122160
公開番号（公開出願番号）：特開2004-325336
出願日： 2003年04月25日
公開日（公表日）： 2004年11月18日
要約：

【課題】本発明の目的は粉体試料においても円二色性を測定することが可能な円二色性測定装置を提供することにある。【解決手段】光照射手段12から照射された光の偏光状態を周期的に変調する偏光変調手段14と、試料20の前段に配置された積分球16と、該積分球16を介して光を検出する検出手段18と、を備え、前記変調された偏光状態の光を前記試料20へ照射し、該試料20からの拡散反射光を前記積分球16によって受けて前記検出手段18により検出することで前記試料20の円二色性を測定することを特徴とする円二色性測定装置10。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光照射手段から照射された光の偏光状態を周期的に変調する偏光変調手段と、 試料の前段に配置された積分球と、 該積分球を介して光を検出する検出手段と、を備え、 前記変調された偏光状態の光を前記試料へ照射し、該試料からの拡散反射光を前記積分球によって受けて前記検出手段により検出することで前記試料の円二色性を測定することを特徴とする円二色性測定装置。

IPC (2件)：

G01N21/19 ,  G01J4/04

FI (2件)：

G01N21/19 ,  G01J4/04 Z

Fターム (13件)：

2G059AA02 ,  2G059BB09 ,  2G059EE02 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ16 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK02 ,  2G059MM17