特許
J-GLOBAL ID：200903000506294423
結晶粒測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-246828
公開番号（公開出願番号）：特開平7-103947
出願日： 1993年10月01日
公開日（公表日）： 1995年04月21日
要約：
【要約】【目的】 板厚変動に拘らず、高精度の異常粒検出を可能とする。【構成】 被検材の板厚を検出し、検出された板厚に応じて、共振周波数が得られるように、超音波の探傷周波数を変更する。
請求項（抜粋）：
結晶方位が揃った正常粒と揃っていない異常粒が混在する被検材に超音波を送受信し、被検材中の各結晶の結晶方位による超音波伝播速度の差を、被検材内の多重反射干渉による共振現象を利用して振幅の差に変換し、異常粒が発生した時の振幅減衰量から、被検材中の異常粒を検出する結晶粒測定装置において、被検材の板厚を検出する手段と、検出された板厚に応じて、共振周波数が得られるように、超音波の探傷周波数を変更する手段と、を備えたことを特徴とする結晶粒測定装置。
IPC (2件)：
G01N 29/18
, G01N 29/08 501
