特許
J-GLOBAL ID：200903000567034165
基板検査用コンタクトプローブ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-169811
公開番号（公開出願番号）：特開平8-035986
出願日： 1994年07月21日
公開日（公表日）： 1996年02月06日
要約：
【要約】【目的】導通検査時接触抵抗が小さく、しかもフラックスやその他のゴミが付着しにくく長寿命な基板検査用コンタクトプローブを提供する。【構成】プリント配線基板等の基板の導通検査を行うために使用するピン状部材を備えた基板検査用コンタクトプローブにおいて、基板と接触するピン状部材の先端部位51の側面51a,51bが構成するエッジ51cが湾曲形状を構成している。
請求項（抜粋）：
プリント配線基板等の基板の導通検査を行うために使用するピン状部材を備えた基板検査用コンタクトプローブにおいて、上記基板と接触する上記ピン状部材の先端部位にエッジが湾曲形状に構成されていることを特徴とする基板検査用コンタクトプローブ。
IPC (2件)：
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