特許

J-GLOBAL ID：200903000587459510

第1級及び第2級アミン化合物分析装置

発明者： 有元 博三 ,  藤井 敏博
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-270660
公開番号（公開出願番号）：特開平10-115606
出願日： 1996年10月14日
公開日（公表日）： 1998年05月06日
要約：

【要約】【課題】 表面電離検出器を使用したガスクロマトグラフで、第3級アミン化合物のみならず第1級及び第2級アミン化合物の高感度測定を可能とする装置を提供する。【解決手段】 分離カラム7の流出ガスに試薬混入口8から気体状のハロゲン化アルキルを連続的に混合し、アルキル化反応炉9で加熱する。分離カラム7から流出した第1級及び第2級アミン化合物はアルキル化反応を受け、第3級アミン化合物に変換される結果、表面電離検出器により高感度に検出される。

請求項（抜粋）：

試料気化室と分離カラムと表面電離検出器よりなる第1級及び第2級アミン化合物分析装置において、分離カラムと表面電離検出器を連結する流路の間に試薬混入口とアルキル化反応炉を設け、前記試薬混入口からカラム流出ガスにハロゲン化アルキルを連続的に混合し、前記アルキル化反応炉を通過させることにより、カラム流出ガス中に存在する第1級及び第2級アミン化合物を第3級アミン化合物に変換し、生じた第3級アミン化合物を表面電離検出器により測定することによって、試料中に含まれる第1級及び第2級アミン化合物の選択的高感度分析を行うことを特徴とする第1級及び第2級アミン化合物分析装置。

IPC (3件)：

G01N 30/84 ,  G01N 30/64 ,  G01N 30/88

FI (3件)：

G01N 30/84 A ,  G01N 30/64 C ,  G01N 30/88 C