特許
J-GLOBAL ID:200903000641548028

電子部品のはんだ性を評価しかつ回復させる方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 深見 久郎 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-230137
公開番号(公開出願番号):特開平6-331598
出願日: 1993年09月16日
公開日(公表日): 1994年12月02日
要約:
【要約】【目的】 電子部品鉛のはんだ性を評価および回復するための連続電気化学還元法および装置を提供することである。【構成】 不活性ガス雰囲気を有する貯蔵槽内に電解液を設け、高い水素過電圧を有する材料を含む陰極を電解液と接触状態にし、不活性対極を電解液と接触状態にし、部品のはんだ付け可能な部分を電解液と陰極との接触状態に置き、陰極と不活性電極との間に電流を流すことでこのはんだ付け可能な部分上の金属酸化物を連続的に還元し、この還元の間に時間の関数として電圧と電流とを測定し、この電圧および電流の測定値を分析して部品のはんだ性を評価する方法。
請求項(抜粋):
電子部品のはんだ付け可能な部分上の金属酸化物を電気化学的に還元させることによりこの部品のはんだ性を評価しかつ回復させる方法であって、不活性ガス雰囲気を有する貯蔵槽内に電解液を設け、前記電解液に陰極を接触状態にし、前記陰極が高い水素過電圧を有する材料を含み、さらに不活性電極を前記電解液と接触状態にし、部品のはんだ付け可能な部分を前記電解液と前記陰極との接触状態に置き、前記陰極と前記不活性電極との間に電流を流すことで部品のはんだ付け可能な部分上の金属酸化物を連続的に還元させ、金属酸化物の前記連続的還元の間に時間の関数として電圧と電流とを測定し、前記電圧と電流の測定値を分析して部品のはんだ性を評価する方法。
IPC (3件):
G01N 27/416 ,  B23K 1/20 ,  H05K 3/34
FI (2件):
G01N 27/46 341 M ,  G01N 27/46 301 M
引用特許:
審査官引用 (1件)

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