特許
J-GLOBAL ID：200903000656358616
撮像装置及び補正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-367188
公開番号（公開出願番号）：特開2007-174124
出願日： 2005年12月20日
公開日（公表日）： 2007年07月05日
要約：
【課題】 特別な装置構成を追加することなく、飽和した欠陥画素を検出し、それに隣接する画素からの出力を補正できるようにすること。【解決手段】 受光部と遮光部とを有する複数の画素を備える撮像素子(14)と、予め取得した撮像素子の欠陥画素の位置情報及び基準出力レベルを少なくとも保持する不揮発性メモリ(56)とを有する撮像装置において、遮光部にある欠陥画素であって、被写体の撮影時の出力レベルが予め設定された飽和レベル未満である欠陥画素を検出し(S202)、検出された欠陥画素の基準出力レベルと、撮影時の出力レベルとに基づいて、受光部にある欠陥画素の基準出力レベルを調整し(S205)、調整された基準出力レベルが前記第2の飽和レベル以上である欠陥画素に隣接する画素を補正対象画素として設定し(S207)、欠陥画素及び補正対象画素から出力された撮影時の出力レベルの補正を行う(S209)。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
受光部と遮光部とを有する複数の画素を備える撮像素子と、
予め取得した前記撮像素子の欠陥画素の位置情報及び基準出力レベルを少なくとも保持する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素の内、前記遮光部にある欠陥画素であって、被写体の撮影時の出力レベルが予め設定された第1の飽和レベル未満である欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出された欠陥画素の基準出力レベルと、前記撮影時の出力レベルとに基づいて、前記記憶手段に記憶された欠陥画素の内、前記受光部にある欠陥画素の基準出力レベルを調整する調整手段と、
前記調整手段により調整された基準出力レベルが前記画素の飽和レベルである第2の飽和レベル以上であるかどうかを判断し、前記調整された基準出力レベルが前記第2の飽和レベル以上である欠陥画素に隣接する画素を補正対象画素として設定する設定手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素及び前記設定手段により設定された補正対象画素から出力された前記撮影時の出力レベルの補正を行う補正手段と
を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (1件)：
FI (3件)：
H04N5/335 P
, H04N5/335 E
, H04N5/335 F
5C024BX01
, 5C024CX23
, 5C024CX24
, 5C024CX26
, 5C024GZ36
, 5C024HX02
