特許
J-GLOBAL ID:200903000725661172

軸状磁性部材の磁気探傷装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大川 宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-248500
公開番号(公開出願番号):特開2000-074885
出願日: 1998年09月02日
公開日(公表日): 2000年03月14日
要約:
【要約】【課題】検査装置の構造や検査作業の複雑化を防止しつつ被検査部材をなす軸状磁性部材の利用率の向上を実現した軸状磁性部材の磁気探傷装置を提供すること。【解決手段】軸状磁性部材1の一端が検出アセンブリ2に相対回転しつつ軸方向に接近して接触することにより生じる疑似信号電圧の主要周波数成分を傷に関する信号電圧から除去することにより、従来、検査不能として利用できなかった軸状磁性部材の端部を有効利用する。
請求項(抜粋):
被検査部材としての軸状磁性部材の外周面を交流磁化するとともに前記軸状磁性部材の外周面の表面部の傷による磁界変化を電気的に検出する検出アセンブリ、及び、前記検出アセンブリの出力電圧から前記軸状磁性部材の表面部の傷に関する信号電圧を抽出する傷信号抽出手段を備え、前記検出アセンブリは、前記検出アセンブリを被検査部材としての軸状磁性部材の外周面に沿って相対回転させつつ軸方向へ相対変位させることにより前記検出アセンブリにより前記軸状磁性部材の外周面を相対的に面走査する軸状磁性部材の磁気探傷装置において、前記傷信号抽出手段は、前記軸状磁性部材の一端が前記検出アセンブリに軸方向に接近して接触することにより生じる疑似信号電圧の主要周波数成分を前記傷に関する信号電圧から除去することを特徴とする軸状磁性部材の磁気探傷装置。
Fターム (13件):
2G053AA11 ,  2G053AB22 ,  2G053BA13 ,  2G053BB03 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CB12 ,  2G053CB24 ,  2G053DA01 ,  2G053DB20 ,  2G053DB21

前のページに戻る