特許

J-GLOBAL ID：200903000748246814

集積回路のテスト装置

発明者： 竹村 和祥
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-278709
公開番号（公開出願番号）：特開2001-101024
出願日： 1999年09月30日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】 マイクロプロセッサを用いた集積回路のテスト装置において、マイクロプロセッサで実行するテスト命令を効率よく実行する。【解決手段】 集積回路にテスト回路13を組み込み、テスト回路13によって外部データバス5から内部メモリ11に格納したテスト命令4をマイクロプロセッサ15で実行することによって、実動作に近いテストを行うことができ、さらにテスト命令4によって、内部的に期待値比較を行い期待値比較結果を内部メモリに蓄積し外部に出力することができるため、効率のよいテストを容易にかつ高速に行うことができる。

請求項（抜粋）：

内部データバスと、前記内部データバスに接続されたマイクロプロセッサと、前記内部データバスに接続された内部メモリと、前記内部データバスに接続された周辺回路と、前記内部データバスに接続された外部バスI/Fと、前記外部バスI/Fを介して前記内部データバスと接続された外部データバスと、前記内部データバスに接続され前記外部バスI/Fを制御することによって前記外部データバスから前記マイクロプロセッサで実行されるテスト命令を前記内部メモリに格納するテスト回路とを備えた集積回路テスト装置。

IPC (4件)：

G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 330 ,  G01R 31/28 ,  G06F 15/78 510

FI (4件)：

G06F 11/22 310 F ,  G06F 11/22 330 B ,  G06F 15/78 510 K ,  G01R 31/28 B

Fターム (8件)：

2G032AA03 ,  2G032AA07 ,  2G032AE08 ,  5B048AA20 ,  5B048CC02 ,  5B048DD01 ,  5B048DD05 ,  5B062JJ05