特許

J-GLOBAL ID：200903000767119602

ロール偏芯制御装置

発明者： 嶋田 雅泰 ,  中島 正明 ,  加藤 享良 ,  榊 直浩
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立プロセスコンピュータエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-100833
公開番号（公開出願番号）：特開平11-290919
出願日： 1998年04月13日
公開日（公表日）： 1999年10月26日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】オンラインで、ロールの偏芯に起因する板厚偏差の変動を、周波数解析を用いて生成した制御出力波を出力し、その制御のフィードバック信号を周波数解析して角周波数毎のゲインと位相を補正し、高精度なロール偏芯制御を可能とする。【解決手段】解析周波数決定処理13にて決定した周波数について、波形解析の実行処理14にて波形の振幅と位相を計測し、その結果から各周波数の波形を再現する。再現した波形を出力ゲイン位相解析処理16にて判定された制御系全体のゲインおよび遅れ位相をもと各周波数毎に補正し、それらを合成することでロール偏芯制御信号として出力し、ロール偏芯に起因する板厚偏差の変動を補正する。

請求項（抜粋）：

圧下位置信号に基づいてロールの位置を制御するとともに該ロールを介して圧延材に圧延荷重を印加する圧下装置を備えた圧延加工機にあって、前記ロールの偏芯量を検出し該偏芯量を除去すべく前記圧下位置信号を制御するロール偏芯制御装置において、圧延された圧延材の厚みの偏差を検出する偏差検出手段と、該偏差検出手段により検出した偏差の波形の特徴周波数をn個(n≧1)判定する特徴周波数解析手段と、該特徴周波数解析手段により判定されたn個の周波数それぞれについて振幅と位相を判定する波形解析手段と、該波形解析手段により判定された振幅と位相に従いn個の波形を再現する正弦波出力手段と、該正弦波出力手段により再現されたn個の波形を合成し前記圧下位置信号として出力するロール偏芯制御信号出力手段と、該ロール偏芯制御信号出力手段により出力された前記圧下位置信号が圧延材に作用するまでに発生するゲインと遅れ位相を前記特徴周波数解析手段により判定されたn個の周波数それぞれについて、前記波形解析手段により判定した振幅と位相より判定する出力ゲイン位相解析手段と、該出力ゲイン位相解析手段により判定したゲインと遅れ位相を打ち消す補正を前記正弦波出力手段により再現されたn個の波形に施す出力ゲイン位相補正手段と、前記偏差検出手段と前記波形解析手段と前記正弦波出力手段と前記ロール偏芯制御信号出力手段と前記出力ゲイン位相解析手段と前記出力ゲイン位相補正手段に動作タイミングを出力するタイミング装置と、を備えて構成されたことを特徴とするロール偏芯制御装置。

IPC (3件)：

B21B 37/18 ,  B21B 37/18 BBH ,  B21B 37/66

FI (2件)：

B21B 37/12 112 B ,  B21B 37/12 BBH