特許
J-GLOBAL ID：200903000770586211
プリント基板のパターン検査装置及び方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-235788
公開番号（公開出願番号）：特開平8-101241
出願日： 1994年09月30日
公開日（公表日）： 1996年04月16日
要約：
【要約】【目的】本発明は、プリント基板のレイアウト設計を行なうCADシステムに於いて、半田ブリッジと見誤るパターンの存在有無を自動的に検査することを特徴とする。【構成】CPU11は、プリント基板のCADデータ(PCBD)を検査対象データとしてRAM13の作業データ領域13bに読み込み、RAM13の実行プログラム領域13aに読み込まれたプリント基板検査プログラム(TP)に従うパターンチェック処理を実行して、隣接するピン相互の間でパターン結線されていることを判断したとき、当該パターンが隣り合う2つのピンに挟まれた領域に内包されているか否かを判断し、内包されているとき、半田ブリッジと見誤るパターンが存在する旨のパターンエラーを表示装置(DISP)16に表示出力する。
請求項（抜粋）：
プリント基板作成用のCADデータから、基板上の隣接するピン相互がパターン結線されているか否かを判断する手段と、この手段で隣接ピン相互がパターン結線されていることを判断したとき、当該パターンが設定領域に内包されているか否かを判断する手段と、この手段でパターンが設定領域に内包されていることを判断したとき、外部にエラーを通知する手段とを具備してなることを特徴とするプリント基板のパターン検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, H05K 3/00
, G06F 17/50
