特許

J-GLOBAL ID：200903000788186300

光測定装置

発明者： 鈴木 星児 ,  八木 茂
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (4件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-043636
公開番号（公開出願番号）：特開2004-251803
出願日： 2003年02月21日
公開日（公表日）： 2004年09月09日
要約：

【課題】不感時間の影響を受けることなく高精度に光を測定する。【解決手段】ヒステリシスコンパレータ13は、抵抗R2を介してコンデンサCの電圧を常時監視して、コンデンサCの電圧が上限電圧V_highに達するとリセット信号を出力する。ヒステリシスコンパレータ13から出力されるリセット信号をカウントする。リセット回路12は、バッファ14を介してリセット信号が供給されるとオンになる。この結果、コンデンサCは抵抗R1及びリセット回路12によって短絡されるので、コンデンサCに蓄積された電荷が放電され、コンデンサCの電圧が低下する。CPU17は、測定期間開始時及び測定期間終了時の電圧V_ini、V_end、リセット回数nとを用いて、照射紫外線量F[W]を演算する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

受光した光に応じた電荷を出力する光検出手段と、 前記光検出手段により出力された電荷を蓄積する蓄積手段と、 前記蓄積手段の電圧が所定値になる毎に、前記蓄積手段に蓄積された電荷を放電する放電手段と、 前記蓄積手段の電圧と前記放電手段が放電した放電回数とに基づいて光量を演算する演算手段と、 を備えた光測定装置。

IPC (2件)：

G01J1/44 ,  G01J1/42

FI (2件)：

G01J1/44 A ,  G01J1/42 A

Fターム (9件)：

2G065AA04 ,  2G065AB05 ,  2G065BA09 ,  2G065BC14 ,  2G065BC15 ,  2G065BC17 ,  2G065BC20 ,  2G065BC28 ,  2G065BC35